当クラウドサービスのご利用イメージ

当社の商用クラウドサービス SUMCLOUD-RFCALC © は、主に電子基板材料・電子回路設計・新素材の開発エンジニアと機能材料の基礎科学研究者の方々を対象に提供するクラウドサービスです。

近年5G/6G(スマホ、無線基地局、遠隔診療)・車載レーダー・データセンターにおける爆発的なデータ転送量の増大に直面しているICT基盤(情報通信技術インフラ)を物理層 [Layer 1,PHY : ISO/IEC 7498-1 OSI] で支える
電子デバイス製品さらには IOWN光電融合デバイス(伝送線路 [Transmission Lines] の集合体) のものづくり技術革新が急速に進む中、
高周波用プリント基板材料の誘電特性を XYZ方向の異方性を全て考慮して 1×10-3 (0.001) オーダー以下の±範囲で数回の繰り返し測定値の誤差 [Δ,delta] を確実に評価することで εr=1×10-2 (0.01) オーダー値の精度を確保して回路設計し、
なおかつ、誘電損を 1×10-5 (0.00001) オーダー以下の±範囲で数回の繰り返し測定値の誤差 [Δ,delta] を明確に評価することで tanδ=1×10-4 (0.0001) オーダー値以下の精度を確保して可能な限り低損失化することが、
膨大なビットデータ量の情報を超高速伝送するデバイス開発を正確に早く進めてゆくための科学原理上および工学上の必要条件となっております。
すなわち、誘電体材料のマイクロ波帯・ミリ波帯における誘電率 (εr,Dk)誘電損失 (tanδ,Df)・金属導体や高温超伝導体の導電率 [表面抵抗] (σrf) を、単純な算出式を厳密に補正し極めて高精度に数値解析して測定することによって
デバイスの開発期間を短縮するニーズ
が日を追うごとに高まっています。

しかしながら、国外内の第一級の科学技術エンジニアの間で、高周波域 [f0>20GHz] での物性に関する見識と洞察力をベースに低誘電かつ超低損失な電子材料の高精度測定と実装評価に対する期待と要求レベルが日を追うごとに高まる一方で、
「ダイナミックレンジ・分解能・ポイント数・掃引速度において高パフォーマンスな最新モデル計測器+測定用の解析計算ソフト+共振器のセット導入 ⇒ 高精度 / 高確度な誘電率・誘電損失・表面抵抗の測定の実現に必須」
「生産ラインでの利用に最適」「貴社の5Gビジネスの成長に貢献」といったマーケティングフロー図に描かれる測定結果は、
このような偏に新品計測器のプリセールス営業戦略の推進を目的に発せられる波形計測器エンジニアの会話や講述・施策を通じての広告イメージ通りには都合よく肝心要の測定データが取得できないのみならず、
これら誘電率測定システムにおいて測定結果に対する比較チェック用の参照ツールと国際的に広く標準的な真値について認知されている複数の電子材料の国際標準データとの間での実測比較が欠如していることが原因で
問題箇所の切り分けができなくなり、課題解決の道筋を把握することすら困難になるのが現状となっております。
真にIEC国際標準規格に正しく準拠した厳密解析計算ソフトという「森全体」を見落としてしまい、波形計測器(ネットワークアナライザ)+ネットワークアナライザ付属の測定用解析計算ソフト+共振器という「木」のみに注意を奪われ
早合点して誘電率測定システムをセット導入してしまうと陥りやすい、非常にもったいなく残念な近視眼的投資による失敗例が広く見受けられると当社では認識しております。
なぜならば、最先端のICT/IoT プリント配線板用途のマイクロ波・ミリ波帯誘電体材料 [Dielectric Materials] の高精度測定法の測定データの確度基準自体は、
試料(サンプル)の形状・形態また試料の挿入孔と励振孔や円形銅箔が原因で測定治具(共振器)の導体部と試料との間に生じてしまう 1µmの空隙[Air gap]の影響による比誘電率【εr, Dk 】の誤差など多面にわたる誤差要因を明確化し、
要因に応じて正確に補正した上で数回の繰り返し測定値のばらつき誤差を精度評価して、より高確度な誘電特性 (εr, tanδ) と 導電材料の導電性 (σr) の値を導出する厳密な数値解析アルゴリズムに基づいてラウンドロビン・テストが実施されることで
既に国際公認の内容領域専門家 [SME] の間で測定結果の信頼性に関する豊富な検証実績が蓄積され IEC【国際電気標準会議 本部:ジュネーブ】において遍く標準化され十分に条件が規定できるレベルで確立されているにもかかわらず、
最新のIEC国際規格 に適合対応できているか否かと関係なく、摂動法など前世紀半ばの測定法と算出式をベースにしたブランディング戦略の成否に未だに立脚する波形計測器+測定用解析計算ソフトの電子計測器市場でのデファクト標準
物性評価の一つである誘電率測定のデジュール標準[各国万有の尺度]に準じた確度[真値] との間にずれが生じ、現在では実質的には互いに何ら相関関係がなくなっている状況にあるためです。

そこで創業以来数多くのお客様へのマイクロ波・ミリ波誘電率測定システムの乗り換え導入実績を踏まえ、当社製品の誘電率・誘電損失・表面抵抗の厳密解析計算ソフトウェア©=国際標準器 の非購入型クラウド利用をご提案することで、
「一見して正常に動作しているご使用中の計測器と共振器(試作レベルを含む)の正確なデータの再現性の検証」→「過去に測定したデータの精度と確度の抜本的な見直し作業」→「問題点の洗い出しと課題検討」→「解決プランの明確化」を
希望されるお客様に対して、真にIEC国際標準規格に適合した高精度測定法に基づく厳密解析計算機新規の設備投資なし契約更新料・解約料一切なし月額基本料金のみ のリスクフリー型料金体系にて、
ご使用中の計測器メーカー名・機種・計測器の新旧を気にすることなく必要な月数分のみ柔軟かつ低コストで利用できるクラウドサービスを提供するに至りました。

SUM-CLOUD RFCALC 利用イメージ図

  1. 安易に測定したデータの確率分布からの推定に頼らず、先端工学的かつ計算科学的に厳密な数値解析アルゴリズムに基づく補正計算を行って評価する誘電特性・導電性の測定精度および測定確度の妥当性(決定性)と比較して、
    現在使っているもしくは導入提案について検討している ネットワークアナライザ+測定用解析計算ソフト 誘電率測定システム の測定誤差・測定感度と測定限界の面での
    実際の価値が不確かな点が悩みの種となっている。
  2. 新たに IEC 62810:2015 国際規格が制定される中、現在使っている旧規格の ネットワークアナライザ+測定用解析計算ソフト+摂動法(方式) 空洞共振器 誘電率測定システム について
    最新の高周波高速伝送対応の電子材料開発を進める上で決定的に不可欠となっている 誘電特性∧導電性 の厳密な精度評価作業のサポート能力が果たして備わっているのか非常に気になっている。
  3. 現在使っている ネットワークアナライザ+測定用解析計算ソフト+ストリップライン共振器 誘電率測定システム に関する精度面での実際の性能について知りたい。
  4. 最近使い始めた ネットワークアナライザ+測定用解析計算ソフト+誘電体円柱共振器 誘電率測定システム に関して、国際的な精度評定における実力が気になる。
  5. 現在使っているもしくは測定委託している ネットワークアナライザ+測定用解析計算ソフト+共振器セットの誘電率測定システム の精度(再現性)と確度の峻別評価の面での不確かさと
    標準規格外設計によって製作された不適合共振器の怪しさに既に気付いており、将来にわたって使用もしくは委託を継続することの有効性に疑問が生じている。
  6. 装荷する基板材料試料(サンプル)の物性の違いに依存して複雑に近接または重なり合う大小様々な共振ピーク(山)の中から正しい測定対象モードの共振波形をミスなく見定めて分離し判別する処理を行うだけでなく、
    継続的な厳密アルゴリズムの改良と補完により無限の小数点以下桁数の探索範囲にわたって存在する値(誘電率、誘電損失、導電率)の中から初等関数と特殊関数を駆使して最適解(真値)を証明し、且つ、
    高周波回路設計しプリント配線した実環境での伝送線路のインピーダンス整合チェックによって工学的に測定データの有用性(信頼性および妥当性)を証明する必要があるマイクロ波・ミリ波誘電特性解析計算ソフトが
    専ら生成する擬似乱数の統計的確率に頼った近似アルゴリズムにより設計されている場合など、
    旧来の本質的かつ永遠に測定不確かな状態の統合一体型の誘電率測定システム[計測器自動制御タイプ]を非常に高額な新品ネットワークアナライザとセット導入することによって
    計測器ファームウェアのアップデートや機種更新の度に頻繁に発生する波形制御プログラム修正のための想定外に巨額の保守費用といった
    解析計算ソフトの測定誤差の精度評価性能と確度(正確度)の向上とは全く関係しない部分で重い投資失敗リスクを意味なく負担し、「計測器ベンダーロックイン」の状態に陥ってしまうことは何とか避けたい。

    近年は、科学的エビデンスに基づいた将来にわたり工学的に持続可能な誘電率測定システムの基盤構想を視野に、
    自動計測タイプの一昔前の誘電率測定システム技術とは全く異なる VDI (仮想デスクトップ基盤) をベースにした誘電率測定クラウド技術 が既に確立されているので、
    コストパフォーマンスが著しく悪い従来型の誘電率測定システムへの新規設備投資を避けつつ誘電特性の確度見直しと評価を行える、低コストで低リスクなソリューションを探し求めている。
  7. 最新ネットアナ計測器とセット販売で営業提案を受けている誘電率測定システムの模倣品や試作メーカー品について、出力された測定データの妥当性の検証能力や浅薄なシステム保守サポート水準などの点で疑念や腑に落ちない点がある。
    計測器ベンダーの技術営業やメンターの知見・レトリックと話術・デモからは得ることが極めて困難な、現状の問題点の洗い出しと課題検討につながるもっと深い先端工学レベルでの誘電率測定コンサルタントを探している。
  8. 将来、誘電率 (εr,Dk) および 誘電損失 (tanδ,Df) に関して精度(再現性)と確度の峻別評価システムへの投資が課題となった際に、高性能サーバ機もしくはスパコンが搭載する超高性能CPU+GPU 拡張機能
    さらにはコンピュータの量子ビット化対応への研究開発投資対効果と比べて、
    近視眼的に波形計測器(ネットワークアナライザ [VNA]) への投資を優先してしまった場合の搭載CPU性能から見た厳密解析演算処理性能とHPCコンピュータシステム設計上の効果の限界について気になる。
    商用クラウド製品を活用して、実際に何に応用できてどんなことが実現できるのか、科学技術計算用のクラウド解析計算システムの実際の演算処理能力の拡張性 も含めて具体的に知りたい。

これら高周波高速プリント基板材料の誘電率測定システムの導入検討の際に生じる投資失敗リスクや懸念、
または「波形計測器+校正キットの確度 [Accuracy] 」と「高周波用電子材料の誘電率および導電率の測定確度(正確度, 妥当性)と測定精度(再現性, 信頼性) [Accuracy and Precision] 」, [Reliability and Validity] 」の間の
意義の違いについて認識できるレベルの知識・経験をお持ちの研究開発エンジニアの方々の課題とご要望にお応えするべく、当社ではクラウド解析計算サービスを提供しております。
何かご不明な点がございましたら、info@sumtec.biz まで、メールにてお気軽にお問い合わせ下さい。