当クラウドサービスのご利用イメージ

当社の商用クラウドサービス SUMCLOUD-RFCALC © は、主に電子基板材料・電子回路設計・新素材開発の開発エンジニアと機能材料の基礎科学研究者の方々を対象に提供するクラウドサービスです。

近年爆発的なデータ転送量の増大に直面しているICT(情報通信技術)を物理層 [Layer 1,PHY : ISO/IEC 7498-1 OSI] で支える電子デバイス製品(伝送線路 [Transmission Lines] の集合体) の技術革新が急速に進む中、
製品に使用する高周波用の誘電体材料の誘電特性を 1×10-3 (0.001) オーダー以下の±範囲で数回の繰り返し測定値の誤差 [Δ,delta] を確実に評価することで εr=1×10-2 (0.01) オーダー値の精度を確保して回路設計し、
なおかつ、誘電損を 1×10-5 (0.00001) オーダー以下の±範囲で数回の繰り返し測定値の誤差 [Δ,delta] を明確に評価することで tanδ=1×10-4 (0.0001) オーダー値以下の精度を確保して可能な限り低損失化することが、
膨大なビットデータ量の情報を超高速伝送するデバイス開発をスムーズに進めてゆく際の科学原理上の必要条件となっております。
すなわち、電子材料のマイクロ波帯・ミリ波帯における誘電率 (εr,Dk) や誘電損失 (tanδ,Df)・金属導体や高温超伝導体の表面抵抗 (σrf) を極めて高精度に数値解析して測定することにより電子デバイスの開発期間を短縮するニーズが、
日を追うごとに高まっています。

しかしながら、国内外の一流の科学技術エンジニアの間で、物質が有する高周波特性に関する見識と洞察力をベースに低誘電・超低損失材料の高精度測定と先端応用研究に対する期待と要求レベルが日を追うごとに高まる一方で、
「ダイナミックレンジ・分解能・ポイント数・掃引速度において高パフォーマンスな最新モデル計測器+計測器付属の解析計算ソフト+共振器のセット購入 ⇒ 高精度 / 高確度な誘電率・誘電損失・表面抵抗の測定の実現」
というマーケティングフロー図に描かれる測定結果は、このような偏に新品計測器のプリセールス営業戦略の推進を目的に発せられる波形計測器エンジニアの会話と講述を通じての広告イメージ通りには都合よく取得できないのみならず、
これら誘電率測定システムにおいて測定結果に対する比較チェック用の参照ツールと国際的に広く標準的な真値について認知されている複数の電子材料の国際標準データとの間での実測比較が欠如していることが原因で
問題箇所の切り分けができなくなり、課題解決の道筋を把握することすら困難になるのが現状となっております。
IEC国際標準規格に準拠した厳密解析計算ソフトという「森全体」を見落としてしまい、波形計測器(ネットワークアナライザ)+ネットワークアナライザ付属の解析計算ソフト+共振器という「木」だけに着目し
早合点して誘電率測定システムをセット購入してしまうと陥りやすい、非常にもったいなく残念な近視眼的投資による失敗例が広く見受けられると当社では認識しております。
なぜならば、最先端のICT/IoT用途向きの高周波用誘電体材料にとって有効な誘電物質 [Dielectric Materials] の高精度測定法の確度基準自体は、
試料(サンプル)の形状もしくは試料の挿入孔と励振孔もしくは円形銅箔が原因で測定治具(共振器)の導体部と試料との間に生じてしまう空隙[Air gap]の影響による比誘電率【εr, Dk 】の大幅な誤差などを諸条件に応じて
正確に補正した上で数回の繰り返し測定値のばらつき誤差を精度評価して、より高確度な誘電特性 (εr, tanδ) と 導電材料の導電性 (σr) を求める厳密な数値解析アルゴリズムに基づいてラウンドロビン・テストが実施されることにより
既に公認の内容領域専門家 [SME] の間で測定結果の信頼性に関する豊富な検証実績が蓄積され IEC【国際電気標準会議 本部:ジュネーブ】において遍く標準化され十分に条件が規定できるレベルで確立されているにもかかわらず、
IEC国際規格 に適合対応できているか否かと関係なく、前世紀の測定法をベースに電子計測器業界の時々の市場シェアやブランディング戦略の成否により決まってきた波形計測器+計測器付属の解析計算ソフトのデファクト標準と
物性評価の一つである誘電率測定のデジュール標準[各国万有の尺度]に則った確度[真値] との間に乖離が生じ、実質的には互いに何ら相関関係がなくなっている実状にあるためです。

そこで創業以来数多くの国内外お客様への誘電率測定システムの乗り換え導入実績を踏まえ、当社製品の誘電率・誘電損失・表面抵抗の厳密解析計算ソフトウェア©=国際標準器 の非購入型クラウド利用をご提案することで、
「一見正常に動作しているご使用中の計測器と共振器(試作レベルを含む)の正確なデータの再現性の検証」→「過去に測定したデータの抜本的な見直しチェック」→「問題点の洗い出しと課題検討」→「解決プランの明確化」を
希望されるお客様に対して、真にIEC国際標準規格に適合した高精度測定法に基づく厳密解析計算機新規の設備投資なし契約更新料・解約料一切なし月額基本料金のみ のリスクフリー型料金体系にて、
ご使用中の計測器メーカー名・機種・計測器の新旧を気にすることなく必要な月数分のみ柔軟かつ低コストで利用できるクラウドサービスを提供するに至りました。

SUM-CLOUD RFCALC 利用イメージ図

  1. 厳密な数値解析アルゴリズムに基づいて評価する誘電特性・導電性のデータ精度および確度と比較して、
    現在使っているもしくは導入提案について検討している ネットワークアナライザ+解析計算ソフト+誘電率測定システム の測定原理による測定誤差・測定感度と測定限界など、
    科学技術面での実際の価値が不明な点が悩みの種となっている。
  2. 新たにIEC62810 Ed.1.0 国際規格が制定される中、現在使っている旧規格の ネットワークアナライザ+解析計算ソフト+摂動法(方式) 空洞共振器 誘電率測定システム が、
    最新の超高速伝送対応の電子材料開発における厳密な精度評価をサポートできる能力を有しているか非常に気になっている。
  3. 現在使っている ネットワークアナライザ+解析計算ソフト+ストリップライン共振器 誘電率測定システム に関する精度面での実際の性能について知りたい。
  4. 最近使い始めた ネットワークアナライザ+解析計算ソフト+誘電体円柱共振器 誘電率測定システム に関する厳密な精度評価の面での実際の性能が気になる。
  5. 現在使っているもしくは測定委託している ネットワークアナライザ+解析計算ソフト+共振器セットの誘電率測定システム の精度と確度の峻別評価の面での曖昧さと
    標準規格外設計によって製作された不適合共振器の怪しさに既に気付いており、将来にわたって使用もしくは委託を継続することの有効性に疑問が生じている。
  6. 近傍する大小様々な共振ピーク(山)の中から正しい測定対象モードの共振波形をミスなく判別する処理を行いつつ、
    厳密アルゴリズムの改良により指数関数・対数関数を駆使して原理上無限の桁数の探索範囲にわたって存在する解候補の中から最適解を証明する必要がある誘電特性解析計算ソフトが
    専ら近似アルゴリズムのみに基づいて設計されている場合など、
    旧来の本質的に有効性が不確かな状態の統合一体型の誘電率測定システム[高周波計測器通信制御タイプ]を非常に高額な新品ネットワークアナライザとセット購入することによって、
    計測器ファームウェアのアップデート時や機種更新の度に定期的に発生する制御プログラム修正のための想定外に巨額の保守費用といった
    解析計算ソフトの計算ライブラリの性能や確度基準とは全く関係しない部分で重い投資失敗リスクを意味なく負担し「計測器ベンダーロックイン」の状態から抜け出せなくなることは何とか避けたい。

    近年は、将来にわたって持続可能な誘電率測定システムの基盤構想を視野に、
    波形計測器制御と統合一体型の一昔前の誘電率測定システム技術とは全く異なる VDI (仮想デスクトップ基盤) をベースにした誘電率測定クラウド技術 が既に確立されているので、
    コストパフォーマンスが悪い従来型の誘電率測定システムへの新規設備投資を避けつつ誘電特性の確度見直しと評価を行える、低コストで低リスクなソリューションを探し求めている。
  7. 現在使っている誘電率測定システムの購入後の浅薄な保守サービス水準に不満・不審な点がある。
    汎用計測器の技術営業コンサルタントの知識・経験からは得ることが極めて困難な、現状の問題点の洗い出しと課題の検討につながるもっと深い科学領域レベルでの誘電率測定コンサルタントを受けたい。
  8. 将来、誘電率 (εr,Dk) と 誘電損失 (tanδ,Df) の精度および確度の峻別評価システムへの投資が課題となった際に、高性能サーバ機もしくはスパコンが搭載する超高性能CPU+GPU 拡張機能
    さらにはコンピュータの量子ビット化対応への研究開発投資対効果と比べて、
    近視眼的に波形計測器(ネットワークアナライザ [VNA]) への投資を優先してしまった場合の搭載CPU性能から見た厳密解析演算処理性能とHPCコンピュータシステム設計上の効果の限界について気になる。
    商用クラウド製品を活用して、実際に何に応用できてどんなことが実現できるのか、科学技術計算用のクラウド解析計算システムの実際の演算処理能力の拡張性 も含めて具体的に知りたい。

これら誘電率測定システムに関する失敗体験や懸念、
または「波形計測器+校正キットの確度 [Accuracy] 」と「ナノテク材料の複素(比)誘電率測定データの、化学計測/物理計測上の確度と精度 [Accuracy and Precision] 」との間の事実上の非相関関係について
認識できるレベルの知識・経験をお持ちの研究開発エンジニアの方々の課題とご要望にお応えするべく、当社ではクラウド解析計算サービスを提供しております。
何かご不明な点がございましたら、info@sumtec.biz まで、メールにてお気軽にお問い合わせ下さい。