SUM-ROD© による解析計算手順

この度は、SUM-ROD© 解析計算クラウド利用契約に正式にお申し込みいただき有難うございます。

プリント回路基板の設計を行う上で、
誘電体円柱共振器法[Dielectric rod resonator method]に準拠して 円柱誘電体材料[セラミックス材、サファイア etc.]の 比誘電率【εr, Dk 】と誘電正接【tanδ, Df 】 を高精度に実測し、
これら円柱試料の誘電特性パラメータ値をベースにして 導体板もしくは銅箔張り誘電体基板そのものの表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】 を解析計算し
差動伝送線路をシミュレーション解析することが、電子回路基板材料の超低損失化の実現 ⇒ 省エネ・超高速伝送対応の最先端電子デバイスの製品化の成否を左右する必須条件となっております。
寸法と共振モードの異なる2個の円柱誘電体材料の比誘電率【εr, Dk 】と誘電正接【tanδ, Df 】から導体板もしくは銅箔張り誘電体基板の導電性を厳密解析計算することが
IEC国際標準規格準拠レベルの高精度測定の世界では今や極めて重要なファクターとなっており、世界中の物性・電子デバイス製品の研究開発の現場で広く活用されております。
しかしながら一方で誘電体円柱共振器法は、
セラミックス円柱試料の多数の共振ピークを単純にTE011とTE021の電界モードに大別されると仮定(推定)して両者が等しい場合のみ測定値が得られるとしたために正しい測定が行えない状況にあった
誘電体共振法(ハッキ・コールマン[Hakki and Coleman]法)が
当社創業者の小林禧夫が先駆的に作成したモードチャートが用いられて以降正しい測定モードを判別ができるようになり実用化・IEC国際規格化された経緯から明らかなように、
狭い周波数範囲にTE(電界)モードおよびTM(磁界)モードが隣接し密集するため、自動測定システムの測定モードの判別ミス(バグ)により正しい測定結果の出力に失敗するリスクを抱えているのが
現状となっております。

SUM-ROD©は、お客様が現在使用中もしくは利用中の誘電率測定システムによって過去に測定した円柱試料[セラミックス材、サファイア etc.]の誘電特性データおよび
導体板もしくは銅箔張り誘電体基板の導電性データの正確さについて抜本的な精度見直しと評価を行う上で、最新の基準となる厳密解析計算アルゴリズムを搭載しているソフトウェアです。
当社は当クラウドサービスを通じて、SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトと合わせて、
誘電特性および導電性データの精度見直しを行う際に正しいTE011およびTE013測定モードを目視で判別するための必須アイテムである当社が著作権を保有する誘電体円柱共振器モードチャートを、
お客様企業内でのご利用に限って提供差し上げております。
国際規格 IEC61788-7:2002 / IEC 61338-1-3:1999、国内規格 JIS H7307:2005 / JIS R 1627:1996 準拠

SUM-ROD© 解析計算クラウドの利用による誘電特性および導電性データの抜本的な精度見直しと評価に使用できるお手持ちの現行モデルまたは旧モデルの計測器[ネットワークアナライザ]は、以下の通りです。
また、誘電特性および導電性データの精度見直しと評価を行うにあたって準備が必要な被測定物を装荷する治具(フィクスチャ)および被測定物に関する情報は、以下の通りです。

計測器[ネットワークアナライザ]

キーサイト・テクノロジー[Keysight Technologies]製 現行モデル(PNAシリーズ、ENAシリーズ、FieldFox)/ 旧モデル(アジレント・テクノロジー 製 8719 / 8720 / 8722、アジレント・テクノロジー 製 8757D、HP製 8510シリーズ)
アンリツ[Anritsu]製 現行モデル(VectorStarシリーズ、ShockLineシリーズ、VNA Masterシリーズ)/ 旧モデル(各シリーズ)
ローデ・シュワルツ[R&S]製 現行モデル(ZVAシリーズ、ZNBシリーズ、ZVTシリーズ、ZVLシリーズ)/ 旧モデル(各シリーズ)
その他、メーカー製

被測定物を装荷する治具タイプ

各メーカー製 誘電体円柱共振器法用、誘電体共振器法用

被測定物[MUT, DUT]

御社製もしくは各メーカー製 2個の円柱試料(TE011共振モード測定用、TE013共振モード測定用)、1対の導体板(銅)もしくは銅箔張り誘電体基板
* 円柱試料の規格寸法:TE011共振モード測定用 L(mm) = 約D(mm)/2、TE013共振モード測定用 L(mm) = 約D(mm)/2×3

また、これらいずれかの計測器[ネットワークアナライザ]と治具を用いて、
ご使用中の計測器と治具の正確さの検証 → TE011共振モード測定用円柱試料の誘電特性データの精度見直しチェック |
→ TE011共振モードおよびTE013共振モード測定用円柱試料の誘電特性データの精度見直しチェック → 導体板もしくは銅箔張り誘電体基板の導電性データの精度見直しチェック
→ 現状の誘電率測定システムにおける問題箇所の明確化と課題検討 → 解決プランの明確化 を進める手順は、以下の通りです。
 
尚、Ⅱ. とⅢ. の解析計算手順は、それぞれ独立した計算プログラムを実行することによる別々の解析計算手順のワークフローとなります。
予め使用する導体板のおおよその20℃における純銅に対する比導電率値を把握している場合は、
Ⅱ. の解析計算手順にしたがってTE011共振モード測定用の1個の円柱試料を用いて比誘電率【εr, Dk 】と誘電正接【tanδ, Df 】の精度見直しチェックが行えます。
見当がつかず全く不明な場合もしくは銅箔張り誘電体基板の導電性データの精度見直しチェックを行いたい場合は、
Ⅲ. の解析計算手順にしたがってTE011 TE013共振モード測定用の2個の円柱試料を用いて表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】の厳密解析計算を行います。

  1. 全体のワークフロー

  2. SUM-RODによる解析計算手順の流れ 1

    SUM-RODによる解析計算手順の流れ 2

    SUM-RODによる解析計算手順の流れ 3

  3. 誘電体円柱共振器法による、円柱試料の誘電特性の解析計算手順
  4.  
    上記のIEC国際標準化された測定方法を、以下の作業手順にしたがって着実に実行することにより、
    ご使用中の計測器・治具の正確さの検証と、円柱試料[セラミックス材、サファイア etc.]の誘電特性データの抜本的な精度見直しチェックを実現することができます。

    1. お手持ちの計測器[ネットワークアナライザ]の校正を行います。
      1. まず始めに、お手持ちのネットワークアナライザ本体に対して校正[Calibration]作業を行うことによって、計測器の現在の状態の正確さについて確認し検証を行う必要があります。
        * 各メーカー別・各機種毎に定められた手順にしたがって、所定の機械式校正キットもしく電子校正(ECal)キットを使用して、以下のパラメータを設定した状態でSOLT校正を行って下さい。
         
        1. 校正周波数範囲(Frequency Range): 300KHz〜14GHz
        2. IF帯域幅(IF Bandwidth): 5KHz
        3. ポイント数(Number Of Points): 801pts
      2. SOLT校正作業が終わりましたら、次に以下の外観写真を参考にして、同軸ケーブルの同軸コネクタ同士を機械式校正キットのThruコネクタで接続します。

        Thruコネクタ接続外観写真 3

        続けて校正作業を終えたお手持ちのネットワークアナライザ画面上に表示されているS21 透過(伝送)特性およびS11(反射)特性それぞれの周波数応答波形と、
        以下の基準となる校正に成功した状態の周波数応答波形との間に、形状の見た目にずれがないかどうか比較して下さい。

        ThruコネクタS21校正基準波形 3      ThruコネクタS11校正基準波形 3

        《この時点で、[計測器の正確さに関する検証]は完了です。
           形状の見た目のずれが大きい場合は、同軸ケーブルまたは同軸コネクタなどの伝送系、もしくはお手持ちのネットワークアナライザの校正状態に異常があると予想されますので
           ご使用中の計測器メーカーもしくは校正サービス会社へ相談されることをお勧め致します。》
      3. 次に可能であれば以下の外観写真を参考にして、同軸ケーブルの同軸コネクタ同士を直結します。

        同軸ケーブル直結外観写真 3

        続けてお手持ちのネットワークアナライザ画面上に表示されているご使用の同軸ケーブルおよび同軸コネクタのS21伝送損失(伝送ロス)特性を示す周波数応答波形と、
        以下の基準となる同軸ケーブルおよび同軸コネクタのS21伝送損失(伝送ロス)特性の周波数応答波形[拡大表示のため1dB/Div にてスケール設定]との間に、
        形状の見た目に大きなずれがないかどうか比較することをお勧めします。

        高品質同軸ケーブルS21校正基準波形 3

        《この時点で、[伝送系に関する検証]は完了です。
           形状の見た目のずれが大きい場合は、ご使用の同軸ケーブルもしくは同軸コネクタの伝送系に問題があると予想されますので、これらをチェックされることをお勧め致します。》
    2. 比誘電率【εr, Dk 】と誘電正接【tanδ, Df 】について精度見直し評価したいTE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の、
      寸法【直径 D (mm) 、長さ L (mm)】を測定します。
      * 以下の外観写真を参考にして、マイクロメータを使って直径 D (mm)と長さ L (mm) の測定を行って下さい。
        TE011共振モード測定用の円柱の規格寸法は、L(mm) = 約D(mm)/2 となります。
    3. TE011共振モード測定用円柱の直径測定外観写真      TE011共振モード測定用円柱の長さ測定外観写真

    4. お手持ちの治具(フィクスチャ)[誘電体円柱共振器用の治具]に、当TE011共振モード測定用円柱サンプルの上下を2枚の導体板(銅)で挟んで装荷します。
      * 定められた組み付け・装荷組み立て手順にしたがって、試料および導体板を治具に確実にセットして下さい。
    5. TE011共振モード測定用円柱の装荷外観写真 1

    6. 以下の外観写真を参考にして、当TE011共振モード測定用円柱サンプルを装荷した共振器を計測器[ネットワークアナライザ]のテストポート1, 2 に接続し、

      TE011共振モード測定用円柱の接続外観写真 2

      続けて当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の、S21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる共振波形を画面上に表示します。
      * 冒頭で先述の通り、誘電体円柱共振器法による測定においては狭い周波数範囲にTE(電界)モードおよびTM(磁界)モードが隣接し密集するため、
        ご契約時にお渡しした誘電体円柱共振器モードチャートを照合して、いずれが正しいTE011測定モードかを注意深く目視して判別することをお勧め致します。


      TE011共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 1
    7. 誘電体円柱共振器モードチャートもしくは当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]に関する過去に測定された共振周波数のデータを参照して、
      画面上に表示されたS21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる複数共振ピークの中からTE011モードの共振ピークがどれかを、表示されている中心周波数をベースに判別します。
      続けて、計測器[ネットワークアナライザ]を操作して判別したTE011共振ピークにマーカの中心をセットし、周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めます。

      TE011共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 2

      周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めることによって、以下のように、当円柱サンプルの狭帯域におけるTE011モード共振波形を画面上に拡大表示します。

    8. TE011共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 1

      共振モード毎に狭帯域における波形を画面上に拡大表示する作業は、高精度測定の成否を左右する非常に重要な作業です。
         上記に示されておりますように、共振波形を広帯域で表示させた場合には Ql(負荷Q)値=419.58 であるのに対して、狭帯域で拡大表示後には Ql(負荷Q)値=2073.6 へと大きく増大しています。
         このことは高精度なQ値を得るには、共振波形を狭帯域で拡大表示することが絶対条件であることを示唆しています。
         Q値の変化により誘電正接【tanδ, Df 】の値は変化し異なってくるため、もし仮に過去の測定において誤って共振波形を狭帯域で拡大表示せずに解析計算を行っていた場合、
         過去に収集し蓄積した全ての誘電正接【tanδ, Df 】のデータ精度の信憑性は著しく疑われるため、再計測とクラウド解析計算による全面的な精度見直しが重要な検討課題となってまいります。》

    9. TE011モードの狭帯域の共振波形を捉えて高精度なQ値を正確に得ることができましたら、
      いよいよ国際標準規格の厳密解析計算処理に基づく、治具の正確さの検証と、当円柱サンプルの誘電特性データの抜本的な精度見直しと評価を実現するための前提条件が揃います。

       
      まず始めに、以下の手順にしたがってお手持ちのパソコンにインストールした利用者クライアントソフト【vSphere Client】を起動して当解析計算クラウドへユーザー認証ログオンし、
      続けて仮想デスクトップPCにログオンします。
      1. お手持ちのパソコンのデスクトップ上の VMware vSphere Client のアイコンをダブルクリックして、利用者クライアントソフト【vSphere Client】のログイン画面を起動します。
        1. IP アドレス/名前: www.sumtec-cloud.net
        2. ユーザー名: 契約申し込み後に当社技術サポート窓口からメール受信した、お客様専用のクラウドユーザー名
        3. パスワード: 契約申し込み後に当社技術サポート窓口からメール受信した、お客様専用のクラウドユーザーのパスワード

        を入力し、続けてログインボタンをクリックします。


      2. vSphere Client ログオン 1

      3. クラウドユーザー認証ログオンを終えて、利用者クライアントソフト【vSphere Client】のホーム画面が表示されます。
        左部分のナビゲータ上には、親インベントリ名を示す "www.sumtec-cloud.net" のアイコンが表示されます。+ボタンをクリックして、親インベントリを展開します。

      4. vSphere Client ログオン 2

      5. 親インベントリの下に、お客様専用に割り当てられた仮想デスクトップPCのアイコンが表示されます。
        仮想デスクトップPC名 "****_Windows7Pro" を右クリックし、次にメニューより "コンソールを開く" をクリック選択します。

      6. vSphere Client ログオン 3

      7. しばらくすると、お手持ちのパソコンのデスクトップ最前面に、仮想デスクトップPCのコンソール画面が表示されます。
        続けてコンソール画面内の黒い部分をクリックします。

      8. vSphere Client ログオン 4

      9. クリック後すぐに、黒いコンソール画面が、仮想デスクトップPCのWindowsログオン画面の表示に切り替わります。
        初期設定では、コンソール画面は全画面表示モードではありません。
        非全画面表示モードのままでは一連の作業を行う際に操作性が良くないので、コンソール画面の表示メニューをクリックし、次に "フルスクリーンへの切り替え" をクリック選択します。

      10. vSphere Client ログオン 5

      11. 全画面表示モードへ切り替える旨を確認するためのポップアップウインドウが表示されます。次にOKボタンをクリックします。

      12. vSphere Client ログオン 6

      13. お手持ちのパソコンのデスクトップ画面の全ての領域が、お客様専用に割り当てられた仮想デスクトップPCのコンソール画面によって完全に覆い隠されます。
        仮想デスクトップPCの日本語OSには Windows 7 Pro、また英語その他の外国語OSには Windows 7 Ultimate が用意されておりますので、
        通常のWindows パソコンと全く同じ操作でのご利用となります。
        通常のWindowsパソコンへのログオンと同じ手順で、当社技術サポート窓口からメール受信したお客様専用のWindowsユーザーのパスワード を入力し、
        続いてログオンボタンをクリックします。

      14. vSphere Client ログオン 7

      15. 仮想デスクトップPCのWindowsユーザー認証ログオンを終えて、お手持ちのパソコンのデスクトップ画面ではなく、仮想デスクトップPCのデスクトップ画面にログオンされます。
        一見お手持ちのパソコンのデスクトップ画面に見えますが、仮想デスクトップPCのデスクトップ画面上で一連の操作を行っている状態であることにご留意下さい。
        尚、一連の操作の途中で 全画面表示モード → 非全画面表示モード に移行したい場合は、CtrlキーとAltキーとEnterキーを同時に押すか、もしくはコンソール画面の右上ボタンをクリックします。
        また、仮想デスクトップPC ⇔ お手持ちのパソコン の間で操作モードの相互の切り替えを行うには、CtrlキーとAltキーを同時に押します。
        一連の操作の途中で仮想デスクトップPCの操作が全く効かなくなった場合には、CtrlキーとAltキーを同時に押すことによって操作が復旧します。

      16. vSphere Client ログオン 8

    10. お客様専用に割り当てられた仮想デスクトップPCのデスクトップ上には、
      契約申し込み時に選択された利用するソフト名に応じて、SUMシリーズ厳密解析計算ソフト© の起動アイコンが用意されております。

       
      次に、以下の手順にしたがって仮想デスクトップPCのデスクトップ画面上の SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトを起動します。
      1. SUM-ROD のアイコンをダブルクリックして、SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトのメニュー選択画面のポップアップウインドウを起動します。
      2. まず最初に、Input Mode[測定モード]の中から、"Manual" ボタンをクリック選択します。
        * 必ず、"Manual" ボタンをクリック選択して下さい。他の計測器制御モード用のボタンは選択しないで下さい。
      3. 次に、MENU[測定メニュー]の中から、"Calc. Complex Permittivity by TE0mp" ボタンをクリック選択します。
      4. 続けてSTARTボタンをクリックし、解析計算処理の入出力操作用GUIのポップアップウインドウを起動します。

      5. SUM-RODの起動 1

    11. SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトの入出力操作用GUIの構造は、上部ブロックと下部ブロックで機能的に分かれている構造となっております。
      GUIの上部ブロックにおいて、測定環境に関するデータ【気温、湿度】
      および国際標準規格の厳密解析計算処理の引数となる基本パラメータ【当TE011共振モード測定用円柱サンプルの寸法値、装荷した導体板のおおよその20℃における純銅に対する比導電率値】を入力・設定し、
      GUIの下部ブロックにおいて、当円柱サンプルの狭帯域の波形データを手入力し誘電特性の厳密解析計算処理の結果を出力する構造となっております。

      * 先述の通り装荷した導体板のおおよその20℃における純銅に対する比導電率値の見当がつかず全く不明な場合は、別途3倍の長さのTE013共振モード測定用円柱サンプルを準備し、
        先行して以後の手順Ⅲ.にしたがって厳密解析計算を行い、TE011 TE013共振モード測定用の2個の円柱試料を用いて導体板の表面比導電率【σrf (%)】を把握しておくことをお勧め致します。

       
      GUIが起動しましたらまず始めに、以下の手順にしたがって測定環境に関するデータおよび各基本パラメータを入力・設定して保存します。 
      * 連続する各セルへ入力する際は、"マウスクリック → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返すのではなく "tabキー → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返して作業する方が、すばやく楽に連続入力できます。
      1. まず始めに、【現在の気温[Temp.(℃)]、現在の湿度[Moisture(%)]】を、有効数字3桁以内の半角数字で入力します。
      2. 続けて【当TE011共振モード測定用円柱サンプルの名前[Material Name]】を、半角英数字で入力します。
      3. 次に、先の手順2.にしたがって測定した当TE011共振モード測定用円柱サンプルの寸法【直径[Diameter(mm)]、測定誤差範囲[delta D (mm)]、長さ[Length(mm)]、測定誤差範囲[delta L (mm)]】を、
        有効数字4桁の半角数字で入力します。
      4. さらに、装荷した導体板のおおよその20℃における純銅に対する比導電率【Sigma (%)@20(℃)】を、有効数字3桁以内の半角数字で入力します。
        また、測定誤差範囲【delta Sr (%)】は±3% が許容限界となりますので、半角数字3を入力します。
      5. 最後に、UPDATE ボタンをクリックし、正しく入力した基本パラメータの設定を保存しておきます。
        * これにより以降の繰り返し解析(再)計算処理において入出力操作用GUIを起動する度に、保存した正確な基本パラメータは自動的に呼び出されて表示されます。
        《高精度な誘電特性データを正確に取得できるレベルの品質の「きれいな導体板」の比導電率は、大気中での酸化による劣化の影響が少ないレベルに相当する 95%±3% が許容限界です。
          目視して導体板の表面に酸化による著しい劣化が確認されましたら、希塩酸などで磨き手入れされることをお勧め致します。》

      6. SUM-RODの基本パラメータ入力 1

    12. 続けて先の手順5.にしたがって計測器[ネットワークアナライザ]画面上に拡大表示している当円柱サンプルの狭帯域におけるTE011モード共振波形の、
      挿入損失【IL】/中心周波数【GHz】/3㏈帯域幅の高い周波数【GHz】/3㏈帯域幅の低い周波数【GHz】を目視で読み取ります。

    13. TE011共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 2

    14. 最後に、先の手順9. にしたがって目視で読み取った当円柱サンプルのTE011モードの波形データを、以下の手順にしたがって入出力操作用GUIの下部ブロックに入力します。
      続けて比誘電率【εr 】と誘電正接【tanδ】の厳密解析計算処理を実行し、出力された高精度データを保存します。
      1. DATA IN ボタンをクリックし、目視で読み取った波形データを手入力するための "Data Input" ポップアップウインドウを起動します。

      2. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 1

      3. "Data Input" ポップアップウインドウ内のテキストボックスに、
        読み取った波形データの【挿入損失 [I.L. (dB)]】を、全5桁の半角数字(−記号抜き)で入力します。
        続けて【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を、
        有効数字6桁の半角数字で入力します。
        全て入力し終えましたら、最後にOKボタンをクリックします。

      4. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 2

      5. 解析計算処理が完了し、Measured Result 欄の中段に、
        当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の比誘電率【εr 】と誘電正接【tanδ】の厳密解析値の結果が表示されます。
        また、それぞれ複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。

      6. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 3

      7. 次に、入出力操作用GUIの上部ブロックにある SAVE ボタンをクリックし、"名前を付けて保存" ポップアップウインドウを起動します。
        テーブルに表示されている計算結果データ
        【挿入損失 [IL (dB)]、中心周波数 [f0 (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [fh (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [fl (GHz)]、負荷Q値 [Ql]、無負荷Q値 [Qu]】を
        保存する準備に入ります。

      8. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 4

      9. 保存する "ファイルの種類" を選択するためのドロップダウンメニューをクリックし、"CSV ファイル(*.csv)" をクリック選択します。

      10. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 5

      11. ナビゲーションウィンドウ上の "デスクトップ" アイコンをクリックし、
        テーブルに表示されている計算結果データのファイル保存先として、仮想デスクトップPCのデスクトップ上に用意されている "解析計算データ・レポート保存フォルダ" のアイコンを
        クリック選択します。続けて開くボタンをクリックします。
        * 当フォルダは、解析計算処理結果のデータファイルを保存するためにお客様に割り当てられた保存用フォルダです。
          お客様もしくは当社にとりまして極めて機密性の高い測定データの当社日本国内データセンターにおける保護・取扱い運用業務を簡略化するために、
          常に当フォルダに解析計算処理結果のデータファイルを保存・蓄積されることをお願い致します。

      12. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 6

      13. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

      14. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 7

      15. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、ファイルが保存されます。
        保存ファイル名をダブルクリックして開き、テーブルに表示されている計算結果データが確実に保存されているかどうかご確認下さい。

      16. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 8
         

      17. 続けて、入出力操作用GUIの上部ブロックに入力・設定した測定環境に関するデータおよび基本パラメータと
        下部ブロックに表示されている波形データおよび解析計算結果データをレポート形式で保存するために、
        REPORT ボタンをクリックします。

      18. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 9

      19. "名前を付けて保存" ポップアップウインドウが起動して、レポートを保存する準備に入ります。
        ナビゲーションウィンドウ上の "デスクトップ" アイコンをクリックし、
        レポートのファイル保存先として、仮想デスクトップPCのデスクトップ上に用意されている "解析計算データ・レポート保存フォルダ" のアイコンをクリック選択します。
        続けて開くボタンをクリックします。

      20. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 10

      21. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

      22. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 11

      23. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、レポートのファイルが保存されます。
        保存ファイル名をダブルクリックして開き、全てのデータがレポート形式で確実に保存されているかどうかご確認下さい。

      24. SUM-RODのクラウド複素比誘電率計算処理 12

      以上で、誘電体円柱共振器法による、セラミックス円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理は完了です。
      * したがって、当セラミックス円柱の誘電特性の国際標準データは、比誘電率【εr, Dk 】=38.0173 誘電正接【tanδ, Df】=0.0002152 となります。
        尚、当サイトの解説におきましては、当社にて保有している誘電体フィルタ用途の超高誘電率・超低損失で非常に高品質な標準セラミックス試料を使用して解析計算を行っております。

       
      必要に応じてお手元に準備されている他の円柱試料のTE011共振ピークを判別し、2.以降の手順を繰り返してクラウド解析計算処理を実行します。
      そして、当解析計算クラウドサービスをさらに上位レベルの誘電体円柱共振器法による誘電特性解析支援ツールとして最大限に有効利用してゆくために、
      保存した国際標準規格の高精度データと過去の測定において収集・蓄積したデータとの比較と見直しチェック (C) → 現状の誘電率測定システムにおける問題箇所の明確化と課題検討 (A)
      → 解決プランの明確化および立案 (P) → 解決プランの実施 (D) による、クラウド解析計算処理サイクルを回してゆきます。

  5. 2共振器法による、導体板(銅)/ 銅箔張り誘電体基板の比導電率の解析計算手順
  6.  
    上記のIEC国際標準化された測定方法を、以下の作業手順にしたがって着実に実行することにより、
    ご使用中の計測器・治具の正確さの検証と、長さと共振周波数の異なる2個の円柱試料(TE011共振モード測定用、TE013共振モード測定用)の2種類の誘電特性データをベースにして
    過去に測定した導体板もしくは銅箔張り誘電体基板の導電性データの抜本的な精度見直しチェックを実現することができます。

    • 導体板の比導電率の解析計算手順
      1. お手持ちの計測器[ネットワークアナライザ]の校正を行います。
      2. * ネットワークアナライザ本体に対して校正作業を行う手順と、校正作業後に[計測器の正確さに関する検証]および[伝送系に関する検証]を行う手順は、前の手順Ⅱ-1. と同じです。
          手順Ⅱ-1. を参考に作業を行います。

      3. 導体板の導電性データ(20℃における純銅に対する表面比導電率【Sigma(%)@20℃】、表面抵抗【RS(Ω)】)の厳密解析計算に使用する
        2個の円柱サンプル[この場合、セラミックス]の寸法【直径 D (mm) 、長さ L (mm)】を、それぞれ測定します。
        * 以下の外観写真を参考にして、マイクロメータを使ってそれぞれの円柱サンプルの直径 D (mm)と長さ L (mm) の測定を行って下さい。
          以下のTE013共振モード測定用の円柱の規格寸法は、L(mm) = 約D(mm)/2×3 となります。また、TE011共振モード測定用の円柱の規格寸法は、L(mm) = 約D(mm)/2 となります。
      4. TE013共振モード測定用円柱の直径測定外観写真      TE013共振モード測定用円柱の長さ測定外観写真

      5. 2個の円柱サンプルの寸法の測定が終わりましたら、
        まず始めに、お手持ちのパソコンにインストールした利用者クライアントソフト【vSphere Client】を起動して当解析計算クラウドへユーザー認証ログオンし、
        続けて仮想デスクトップPCに予めログオンしておきます。
      6. * 一連のログオンを行う手順は、前の手順Ⅱ-6. と同じです。手順Ⅱ-6. を参考に、お客様専用に割り当てられた仮想デスクトップPCに予めログインしておきます。

      7. 仮想デスクトップPCにログオンしましたら、次に以下の手順にしたがってデスクトップ画面上の SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトを起動します。
        尚、導体板の比導電率の解析計算を行うには「TE011 TE013の2種類の共振モードを用いて誘電特性と導電性を計算するプログラム」を起動します。
        1. SUM-ROD のアイコンをダブルクリックして、SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトのメニュー選択画面のポップアップウインドウを起動します。
        2. まず最初に、Input Mode[測定モード]の中から、"Manual" ボタンをクリック選択します。
          * 必ず、"Manual" ボタンをクリック選択して下さい。他の計測器制御モード用のボタンは選択しないで下さい。
        3. 次に、MENU[測定メニュー]の中から、"Calc. Er, tand and Rs using TE0m1 and TE0mp" ボタンをクリック選択します。
        4. 続けてSTARTボタンをクリックし、解析計算処理の入出力操作用GUIのポップアップウインドウを起動します。

        5. SUM-RODの起動 2

      8. 先述の通り、導体板の表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】は、
        2個の円柱サンプル(TE011共振モード測定用、TE013共振モード測定用)の2種類の比誘電率【εr1, εr3】の厳密解析計算値をベースにして自動計算されます。
        まず初めにお手持ちの治具(フィクスチャ)[誘電体円柱共振器用の治具]に、まず1個目のTE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の上下を2枚の導体板(銅)で挟んで装荷します。
        * 定められた組み付け・装荷組み立て手順にしたがって、試料および導体板を治具に確実にセットして下さい。
      9. TE011共振モード測定用円柱の装荷外観写真 3

      10. 次に、以下の外観写真を参考にして、1個目のTE011共振モード測定用円柱サンプルを装荷した共振器を計測器[ネットワークアナライザ]のテストポート1, 2 に接続し、

        TE011共振モード測定用円柱の接続外観写真 4

        続けて当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の、S21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる共振波形を画面上に表示します。
        * 冒頭で先述の通り、誘電体円柱共振器法による測定においては狭い周波数範囲にTE(電界)モードおよびTM(磁界)モードが隣接し密集するため、
          ご契約時にお渡しした誘電体円柱共振器モードチャートを照合して、いずれが正しいTE011測定モードかを注意深く目視して判別することをお勧め致します。


        導体板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 1
      11. 次に、誘電体円柱共振器モードチャートもしくは当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]に関する過去に測定された共振周波数のデータを参照して、
        画面上に表示されたS21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる複数共振ピークの中からTE011モードの共振ピークがどれかを、表示されている中心周波数をベースに判別します。
        続けて、計測器[ネットワークアナライザ]を操作して判別したTE011共振ピークにマーカの中心をセットし、周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めます。

        導体板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 2

        周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めることによって、以下のように、当円柱サンプルの狭帯域におけるTE011モード共振波形を画面上に拡大表示します。

      12. 導体板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 1

        共振モード毎に狭帯域における波形を画面上に拡大表示する作業は、高精度測定の成否を左右する非常に重要な作業です。
           上記に示されておりますように、共振波形を広帯域で表示させた場合には Ql(負荷Q)値=354.86 であるのに対して、狭帯域で拡大表示後には Ql(負荷Q)値=2055.0 へと大きく増大しています。
           このことは高精度なQ値を得るには、共振波形を狭帯域で拡大表示することが絶対条件であることを示唆しています。
           Q値の変化により誘電正接【tanδ, Df 】の値は変化し異なってくるため、もし仮に過去の測定において誤って共振波形を狭帯域で拡大表示せずに解析計算を行っていた場合、
           過去に収集し蓄積した全ての誘電正接【tanδ, Df 】のデータ精度の信憑性は著しく疑われるため、再計測とクラウド解析計算による全面的な精度見直しが重要な検討課題となってまいります。》

      13. TE011モードの狭帯域の共振波形を捉えて高精度なQ値を正確に得ることができましたら、
        いよいよ国際標準規格の厳密解析計算処理に基づく、治具の正確さの検証と、
        当TE011共振モード測定用円柱サンプルの誘電特性パラメータ値をベースにして導体板の導電性データの抜本的な精度見直しと評価を実現するための前提条件が揃います。
        尚、SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトの入出力操作用GUIの構造は、上部ブロックと下部ブロックで機能的に分かれている構造となっております。
        GUIの上部ブロックにおいて、測定環境に関するデータ【気温、湿度】および国際標準規格の厳密解析計算処理の引数となる基本パラメータ【当TE011共振モード測定用円柱サンプルの寸法値】を入力・設定し、
        GUIの下部ブロックにおいて、当円柱サンプルの狭帯域の波形データを手入力し誘電特性の厳密解析計算処理の結果を出力する構造となっております。

         
        まず始めに、以下の手順にしたがって、先の手順4.にしたがって起動している解析計算処理の入出力操作用のMode1 [TE011モード] タブGUIに測定環境に関するデータおよび基本パラメータを入力・設定して保存します。 
        * 連続する各セルへ入力する際は、"マウスクリック → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返すのではなく "tabキー → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返して作業する方が、すばやく楽に連続入力できます。
        1. まず始めに、【現在の気温[Temp.(℃)]、現在の湿度[Moisture(%)]】を、有効数字3桁以内の半角数字で入力します。
        2. 続けて【当TE011共振モード測定用円柱サンプルの名前[Material Name]】を、半角英数字で入力します。
        3. 次に、先の手順2.にしたがって測定した当TE011共振モード測定用円柱サンプルの寸法【直径[Diameter(mm)]、測定誤差範囲[delta D (mm)]、長さ[Length(mm)]、測定誤差範囲[delta L (mm)]】を、
          有効数字4桁の半角数字で入力します。
        4. 最後に、UPDATE ボタンをクリックし、正しく入力した基本パラメータの設定を保存しておきます。
          * これにより以降の繰り返し解析(再)計算処理において入出力操作用GUIを起動する度に、保存した正確な基本パラメータは自動的に呼び出されて表示されます。

        5. SUM-RODの基本パラメータ入力 2

      14. 続けて先の手順7.にしたがって計測器[ネットワークアナライザ]画面上に拡大表示している当円柱サンプルの狭帯域におけるTE011モード共振波形の、
        挿入損失【IL】/中心周波数【GHz】/3㏈帯域幅の高い周波数【GHz】/3㏈帯域幅の低い周波数【GHz】を目視で読み取ります。

      15. 導体板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 2

      16. さらに続けて、先の手順9. にしたがって目視で読み取った当円柱サンプルのTE011モードの波形データを、以下の手順にしたがって入出力操作用のMode1 [TE011モード] タブGUIの下部ブロックに入力します。
        続けて比誘電率【εr1】の厳密解析計算処理を実行し、出力された高精度データを保存します。
        1. DATA IN ボタンをクリックし、目視で読み取った波形データを手入力するための "Data Input" ポップアップウインドウを起動します。

        2. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 1

        3. "Data Input" ポップアップウインドウ内のテキストボックスに、
          読み取った波形データの【挿入損失 [I.L. (dB)]】を、全5桁の半角数字(−記号抜き)で入力します。
          続けて【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を、
          有効数字6桁の半角数字で入力します。
          全て入力し終えましたら、最後にOKボタンをクリックします。

        4. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 2

        5. 解析計算処理が完了し、Measured Result 欄の中段に、
          当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の比誘電率【εr1】の厳密解析値の結果が表示されます。
          また、それぞれ複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。

        6. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 3

        7. 次に、入出力操作用GUIの上部ブロックにある SAVE ボタンをクリックし、"名前を付けて保存" ポップアップウインドウを起動します。
          テーブルに表示されている計算結果データ
          【挿入損失 [IL (dB)]、中心周波数 [f0 (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [fh (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [fl (GHz)]、負荷Q値 [Ql]、無負荷Q値 [Qu]】を
          保存する準備に入ります。

        8. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 4

        9. 保存する "ファイルの種類" を選択するためのドロップダウンメニューをクリックし、"CSV ファイル(*.csv)" をクリック選択します。

        10. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 5

        11. ナビゲーションウィンドウ上の "デスクトップ" アイコンをクリックし、
          テーブルに表示されている計算結果データのファイル保存先として、仮想デスクトップPCのデスクトップ上に用意されている "解析計算データ・レポート保存フォルダ" のアイコンを
          クリック選択します。続けて開くボタンをクリックします。
          * 当フォルダは、解析計算処理結果のデータファイルを保存するためにお客様に割り当てられた保存用フォルダです。
            お客様もしくは当社にとりまして極めて機密性の高い測定データの当社日本国内データセンターにおける保護・取扱い運用業務を簡略化するために、
            常に当フォルダに解析計算処理結果のデータファイルを保存・蓄積されることをお願い致します。

        12. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 6

        13. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

        14. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 7

        15. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、ファイルが保存されます。
          保存ファイル名をダブルクリックして開き、テーブルに表示されている計算結果データが確実に保存されているかどうかご確認下さい。

        16. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 8
           

        17. 続けて、入出力操作用GUIの上部ブロックに入力・設定した測定環境に関するデータおよび基本パラメータと
          下部ブロックに表示されている波形データおよび解析計算結果データをレポート形式で保存するために、
          REPORT ボタンをクリックします。

        18. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 9

        19. "名前を付けて保存" ポップアップウインドウが起動して、レポートを保存する準備に入ります。
          ナビゲーションウィンドウ上の "デスクトップ" アイコンをクリックし、
          レポートのファイル保存先として、仮想デスクトップPCのデスクトップ上に用意されている "解析計算データ・レポート保存フォルダ" のアイコンをクリック選択します。
          続けて開くボタンをクリックします。

        20. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 10

        21. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

        22. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 11

        23. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、レポートのファイルが保存されます。
          保存ファイル名をダブルクリックして開き、全てのデータがレポート形式で確実に保存されているかどうかご確認下さい。

        24. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 12

        以上で、2共振器法による、1個目のTE011共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理は完了です。
        続けて、次の手順11. 以降にしたがって2個目のTE013共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理を行い、導体板の表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】を自動計算します。

      17. お手持ちの治具(フィクスチャ)[誘電体円柱共振器用の治具]に、2個目のTE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の上下を2枚の導体板(銅)で挟んで装荷します。
        * 定められた組み付け・装荷組み立て手順にしたがって、試料および導体板を治具に確実にセットして下さい。
      18. TE013共振モード測定用円柱の装荷外観写真 1

      19. 次に、以下の外観写真を参考にして、2個目のTE013共振モード測定用円柱サンプルを装荷した共振器を計測器[ネットワークアナライザ]のテストポート1, 2 に接続し、

        TE013共振モード測定用円柱の接続外観写真 2

        続けて当TE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の、S21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる共振波形を画面上に表示します。
        * 冒頭で先述の通り、誘電体円柱共振器法による測定においては狭い周波数範囲にTE(電界)モードおよびTM(磁界)モードが隣接し密集するため、
          ご契約時にお渡しした誘電体円柱共振器モードチャートを照合して、いずれが正しいTE013測定モードかを注意深く目視して判別することをお勧め致します。
          尚、TE013測定モードの周辺にはTE011測定モードの周辺以上に狭い周波数範囲に他の共振モードが隣接し密集するため、
          測定モードの判別ミスにより正しい測定結果の出力に失敗するリスクが高いのが実状となっており、判別を行う際しては特に細心の注意を必要とします。


        導体板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 1
      20. 次に、誘電体円柱共振器モードチャートもしくは当TE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]に関する過去に測定された共振周波数のデータを注意深く参照して、
        画面上に表示されたS21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる複数共振ピークの中から正しいTE013モードの共振ピークがどれかを、表示されている中心周波数をベースに判別します。
        続けて、計測器[ネットワークアナライザ]を操作して正しく判別したTE013共振ピークにマーカの中心をセットし、周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めます。

        導体板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 2

        周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めることによって、以下のように、当円柱サンプルの狭帯域におけるTE013モード共振波形を画面上に拡大表示します。

      21. 導体板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 1

        共振モード毎に狭帯域における波形を画面上に拡大表示する作業は、高精度測定の成否を左右する非常に重要な作業です。
           上記に示されておりますように、共振波形を広帯域で表示させた場合には Ql(負荷Q)値=487.77 であるのに対して、狭帯域で拡大表示後には Ql(負荷Q)値=3140.4 へと大きく増大しています。
           このことは高精度なQ値を得るには、共振波形を狭帯域で拡大表示することが絶対条件であることを示唆しています。
           Q値の変化により誘電正接【tanδ, Df 】の値は変化し異なってくるため、もし仮に過去の測定において誤って共振波形を狭帯域で拡大表示せずに解析計算を行っていた場合、
           過去に収集し蓄積した全ての誘電正接【tanδ, Df 】のデータ精度の信憑性は著しく疑われるため、再計測とクラウド解析計算による全面的な精度見直しが重要な検討課題となってまいります。》

      22. 1個目のTE011共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理 手順8. において先述しました通り、
        SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトの入出力操作用GUIの構造は、上部ブロックと下部ブロックで機能的に分かれている構造となっております。
        GUIの上部ブロックにおいて、測定環境に関するデータ【気温、湿度】および国際標準規格の厳密解析計算処理の引数となる基本パラメータ【当TE013共振モード測定用円柱サンプルの寸法値】を入力・設定し、
        GUIの下部ブロックにおいて、当円柱サンプルの狭帯域の波形データを手入力し誘電特性の厳密解析計算処理の結果を出力する構造となっております。

         
        まず始めに、以下の手順にしたがって、起動している解析計算処理の入出力操作用のMode2 [TE013モード] タブGUIに測定環境に関するデータおよび基本パラメータを入力・設定して保存します。 
        * 連続する各セルへ入力する際は、"マウスクリック → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返すのではなく "tabキー → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返して作業する方が、すばやく楽に連続入力できます。
        1. まず始めに、【現在の気温[Temp.(℃)]、現在の湿度[Moisture(%)]】を、有効数字3桁以内の半角数字で入力します。
        2. 続けて【当TE013共振モード測定用円柱サンプルの名前[Material Name]】を、半角英数字で入力します。
        3. 次に、先の手順2.にしたがって測定した当TE013共振モード測定用円柱サンプルの寸法【直径[Diameter(mm)]、測定誤差範囲[delta D (mm)]、長さ[Length(mm)]、測定誤差範囲[delta L (mm)]】を、
          有効数字4桁の半角数字で入力します。
        4. 最後に、UPDATE ボタンをクリックし、正しく入力した基本パラメータの設定を保存しておきます。
          * これにより以降の繰り返し解析(再)計算処理において入出力操作用GUIを起動する度に、保存した正確な基本パラメータは自動的に呼び出されて表示されます。

        5. SUM-RODの基本パラメータ入力 3

      23. 続けて先の手順13.にしたがって計測器[ネットワークアナライザ]画面上に拡大表示している当円柱サンプルの狭帯域におけるTE013モード共振波形の、
        挿入損失【IL】/中心周波数【GHz】/3㏈帯域幅の高い周波数【GHz】/3㏈帯域幅の低い周波数【GHz】を目視で読み取ります。

      24. 導体板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 2

      25. さらに続けて、先の手順15. にしたがって目視で読み取った当円柱サンプルのTE013モードの波形データを、以下の手順にしたがって入出力操作用のMode2 [TE013モード] タブGUIの下部ブロックに入力します。
        続けて比誘電率【εr3】の厳密解析計算処理を実行し、出力された高精度データを保存します。
        1. DATA IN ボタンをクリックし、目視で読み取った波形データを手入力するための "Data Input" ポップアップウインドウを起動します。

        2. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 13

        3. "Data Input" ポップアップウインドウ内のテキストボックスに、
          読み取った波形データの【挿入損失 [I.L. (dB)]】を、全5桁の半角数字(−記号抜き)で入力します。
          続けて【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を、
          有効数字6桁の半角数字で入力します。
          全て入力し終えましたら、最後にOKボタンをクリックします。

        4. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 14

        5. 解析計算処理が完了し、Measured Result 欄の中段に、
          当TE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の比誘電率【εr3】の厳密解析値の結果が表示されます。
          また、それぞれ複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。

        6. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 15

        7. 次に、入出力操作用GUIの上部ブロックにある SAVE ボタンをクリックし、"名前を付けて保存" ポップアップウインドウを起動します。
          テーブルに表示されている計算結果データ
          【挿入損失 [IL (dB)]、中心周波数 [f0 (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [fh (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [fl (GHz)]、負荷Q値 [Ql]、無負荷Q値 [Qu]】を
          保存する準備に入ります。

        8. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 16

        9. 保存する "ファイルの種類" を選択するためのドロップダウンメニューをクリックし、"CSV ファイル(*.csv)" をクリック選択します。

        10. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 17

        11. ナビゲーションウィンドウ上の "デスクトップ" アイコンをクリックし、
          テーブルに表示されている計算結果データのファイル保存先として、仮想デスクトップPCのデスクトップ上に用意されている "解析計算データ・レポート保存フォルダ" のアイコンを
          クリック選択します。続けて開くボタンをクリックします。
          * 当フォルダは、解析計算処理結果のデータファイルを保存するためにお客様に割り当てられた保存用フォルダです。
            お客様もしくは当社にとりまして極めて機密性の高い測定データの当社日本国内データセンターにおける保護・取扱い運用業務を簡略化するために、
            常に当フォルダに解析計算処理結果のデータファイルを保存・蓄積されることをお願い致します。

        12. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 18

        13. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

        14. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 19

        15. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、ファイルが保存されます。
          保存ファイル名をダブルクリックして開き、テーブルに表示されている計算結果データが確実に保存されているかどうかご確認下さい。

        16. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 20
           

        17. 続けて、入出力操作用GUIの上部ブロックに入力・設定した測定環境に関するデータおよび基本パラメータと
          下部ブロックに表示されている波形データおよび解析計算結果データをレポート形式で保存するために、
          REPORT ボタンをクリックします。

        18. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 21

        19. "名前を付けて保存" ポップアップウインドウが起動して、レポートを保存する準備に入ります。
          ナビゲーションウィンドウ上の "デスクトップ" アイコンをクリックし、
          レポートのファイル保存先として、仮想デスクトップPCのデスクトップ上に用意されている "解析計算データ・レポート保存フォルダ" のアイコンをクリック選択します。
          続けて開くボタンをクリックします。

        20. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 22

        21. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

        22. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 23

        23. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、レポートのファイルが保存されます。
          保存ファイル名をダブルクリックして開き、全てのデータがレポート形式で確実に保存されているかどうかご確認下さい。

        24. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 24

        以上で、2共振器法による、2個目のTE013共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理は完了です。
        最後に、[Results] タブをクリックし、当導体板の表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】の自動計算結果を確認します。

      26. [Results] タブをクリックすると、自動計算結果の出力GUIに移動します。最後に、出力された高精度データをレポート形式で保存します。
        1. Measured Result 欄に、
          当2個の円柱サンプルの誘電正接の平均値【tanδ, Df 】、
          当2枚の導体板の20℃における純銅に対する表面比導電率の平均値【Sigma(%)@20℃】および 表面抵抗の平均値【RS(Ω)】の厳密解析値の結果が表示されます。
          また、複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。
          結果の確認を終えましたら、続けてREPORT ボタンをクリックします。

        2. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 25

        3. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

        4. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 26

        5. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、レポートのファイルが保存されます。
          保存ファイル名をダブルクリックして開き、全てのデータがレポート形式で確実に保存されているかどうかご確認下さい。

        6. SUM-RODのクラウド導体板比導電率計算処理 27

        以上で、2共振器法による、導体板(銅)の導電性のクラウド解析計算処理は完了です。
        * したがって、当導体板の導電性の国際標準データは、表面比導電率【Sigma(%)@20℃】=100.931 表面抵抗【RS(Ω)】=0.02602 となります。
          尚、表面比導電率が100% 以上の銅とは、「表面に対象物を映す銅鏡に相当するレベルの表面品質の低ロス材料」であることを意味しております。

    • 銅箔張り誘電体基板の比導電率の解析計算手順
      1. お手持ちの計測器[ネットワークアナライザ]の校正を行います。
      2. * ネットワークアナライザ本体に対して校正作業を行う手順と、校正作業後に[計測器の正確さに関する検証]および[伝送系に関する検証]を行う手順は、先の手順Ⅱ-1. と同じです。
          手順Ⅱ-1. を参考に作業を行います。

      3. 銅箔張り誘電体基板の導電性データ(20℃における純銅に対する表面比導電率【Sigma(%)@20℃】、表面抵抗【RS(Ω)】)の厳密解析計算に使用する
        2個の円柱サンプル[この場合、セラミックス]の寸法【直径 D (mm) 、長さ L (mm)】を、それぞれ測定します。
      4. * 2個の円柱サンプルの寸法を測定する手順は、前の導体板の比導電率の解析計算手順-2. と同じです。導体板の比導電率の解析計算手順-2. を参考に作業を行います。

      5. 2個の円柱サンプルの寸法の測定が終わりましたら、
        まず始めに、お手持ちのパソコンにインストールした利用者クライアントソフト【vSphere Client】を起動して当解析計算クラウドへユーザー認証ログオンし、
        続けて仮想デスクトップPCに予めログオンしておきます。
      6. * 一連のログオンを行う手順は、先の手順Ⅱ-6. と同じです。手順Ⅱ-6. を参考に、お客様専用に割り当てられた仮想デスクトップPCに予めログインしておきます。

      7. 仮想デスクトップPCにログオンしましたら、次に以下の手順にしたがってデスクトップ画面上の SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトを起動します。
        尚、銅箔張り誘電体基板の比導電率の解析計算を行うには「TE011 TE013の2種類の共振モードを用いて誘電特性と導電性を計算するプログラム」を起動します。
      8. * ソフトを起動する手順は、前の導体板の比導電率の解析計算手順-4. と同じです。
          導体板の比導電率の解析計算手順-4. を参考に "Calc. Er, tand and Rs using TE0m1 and TE0mp" を起動します。

      9. 先述の通り、銅箔張り誘電体基板の表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】は、
        2個の円柱サンプル(TE011共振モード測定用、TE013共振モード測定用)の2種類の比誘電率【εr1, εr3】の厳密解析計算値をベースにして自動計算されます。
        まず初めにお手持ちの治具(フィクスチャ)[誘電体円柱共振器用の治具]に、まず1個目のTE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の上下を2枚の銅箔張り誘電体基板で挟んで装荷します。
        * 定められた組み付け・装荷組み立て手順にしたがって、試料および銅箔張り誘電体基板を治具に確実にセットして下さい。
      10. TE011共振モード測定用円柱の装荷外観写真 5

      11. 次に、1個目のTE011共振モード測定用円柱サンプルを装荷した共振器を計測器[ネットワークアナライザ]のテストポート1, 2 に接続し、
        続けて当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の、S21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる共振波形を画面上に表示します。
        * 冒頭で先述の通り、誘電体円柱共振器法による測定においては狭い周波数範囲にTE(電界)モードおよびTM(磁界)モードが隣接し密集するため、
          ご契約時にお渡しした誘電体円柱共振器モードチャートを照合して、いずれが正しいTE011測定モードかを注意深く目視して判別することをお勧め致します。


        銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 1
      12. 次に、誘電体円柱共振器モードチャートもしくは当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]に関する過去に測定された共振周波数のデータを参照して、
        画面上に表示されたS21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる複数共振ピークの中からTE011モードの共振ピークがどれかを、表示されている中心周波数をベースに判別します。
        続けて、計測器[ネットワークアナライザ]を操作して判別したTE011共振ピークにマーカの中心をセットし、周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めます。

        銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 2

        周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めることによって、以下のように、当円柱サンプルの狭帯域におけるTE011モード共振波形を画面上に拡大表示します。

      13. 銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 1

        共振モード毎に狭帯域における波形を画面上に拡大表示する作業は、高精度測定の成否を左右する非常に重要な作業です。
           上記に示されておりますように、共振波形を広帯域で表示させた場合には Ql(負荷Q)値=292.76 であるのに対して、狭帯域で拡大表示後には Ql(負荷Q)値=3293.7 へと大きく増大しています。
           このことは高精度なQ値を得るには、共振波形を狭帯域で拡大表示することが絶対条件であることを示唆しています。
           Q値の変化により誘電正接【tanδ, Df 】の値は変化し異なってくるため、もし仮に過去の測定において誤って共振波形を狭帯域で拡大表示せずに解析計算を行っていた場合、
           過去に収集し蓄積した全ての誘電正接【tanδ, Df 】のデータ精度の信憑性は著しく疑われるため、再計測とクラウド解析計算による全面的な精度見直しが重要な検討課題となってまいります。》

      14. TE011モードの狭帯域の共振波形を捉えて高精度なQ値を正確に得ることができましたら、
        いよいよ国際標準規格の厳密解析計算処理に基づく、治具の正確さの検証と、
        当TE011共振モード測定用円柱サンプルの誘電特性パラメータ値をベースにして銅箔張り誘電体基板の導電性データの抜本的な精度見直しと評価を実現するための前提条件が揃います。
        前述の通り、SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトの入出力操作用GUIの構造は、上部ブロックと下部ブロックで機能的に分かれている構造となっております。
        GUIの上部ブロックにおいて、測定環境に関するデータ【気温、湿度】および国際標準規格の厳密解析計算処理の引数となる基本パラメータ【当TE011共振モード測定用円柱サンプルの寸法値】を入力・設定し、
        GUIの下部ブロックにおいて、当円柱サンプルの狭帯域の波形データを手入力し誘電特性の厳密解析計算処理の結果を出力する構造となっております。

         
        まず始めに、以下の手順にしたがって、前の手順4.にしたがって起動している解析計算処理の入出力操作用のMode1 [TE011モード] タブGUIに測定環境に関するデータおよび基本パラメータを入力・設定して保存します。 
        * 連続する各セルへ入力する際は、"マウスクリック → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返すのではなく "tabキー → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返して作業する方が、すばやく楽に連続入力できます。
        1. まず始めに、【現在の気温[Temp.(℃)]、現在の湿度[Moisture(%)]】を、有効数字3桁以内の半角数字で入力します。
        2. 続けて【当TE011共振モード測定用円柱サンプルの名前[Material Name]】を、半角英数字で入力します。
        3. 次に、前の手順2.にしたがって測定した当TE011共振モード測定用円柱サンプルの寸法【直径[Diameter(mm)]、測定誤差範囲[delta D (mm)]、長さ[Length(mm)]、測定誤差範囲[delta L (mm)]】を、
          有効数字5桁以内の半角数字で入力します。
        4. 最後に、UPDATE ボタンをクリックし、正しく入力した基本パラメータの設定を保存しておきます。
          * これにより以降の繰り返し解析(再)計算処理において入出力操作用GUIを起動する度に、保存した正確な基本パラメータは自動的に呼び出されて表示されます。

        5. SUM-RODの基本パラメータ入力 4

      15. 続けて先の手順7.にしたがって計測器[ネットワークアナライザ]画面上に拡大表示している当円柱サンプルの狭帯域におけるTE011モード共振波形の、
        挿入損失【IL】/中心周波数【GHz】/3㏈帯域幅の高い周波数【GHz】/3㏈帯域幅の低い周波数【GHz】を目視で読み取ります。

      16. 銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE011共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 2

      17. さらに続けて、先の手順9. にしたがって目視で読み取った当円柱サンプルのTE011モードの波形データを、以下の手順にしたがって入出力操作用のMode1 [TE011モード] タブGUIの下部ブロックに入力します。
        続けて比誘電率【εr1】の厳密解析計算処理を実行し、出力された高精度データを保存します。
        1. DATA IN ボタンをクリックし、目視で読み取った波形データを手入力するための "Data Input" ポップアップウインドウを起動します。

        2. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 1

        3. "Data Input" ポップアップウインドウ内のテキストボックスに、
          読み取った波形データの【挿入損失 [I.L. (dB)]】を、全5桁の半角数字(−記号抜き)で入力します。
          続けて【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を、
          有効数字6桁の半角数字で入力します。
          全て入力し終えましたら、最後にOKボタンをクリックします。

        4. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 2

        5. 解析計算処理が完了し、Measured Result 欄の中段に、
          当TE011共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の比誘電率【εr1】の厳密解析値の結果が表示されます。
          また、それぞれ複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。

        6. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 3

        7. * 以降の出力された高精度データを保存する手順は、前の導体板の比導電率の解析計算手順-10-iv.以降と同じです。導体板の比導電率の解析計算手順-10-iv.以降 を参考に作業を行います。

        以上で、2共振器法による、1個目のTE011共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理は完了です。
        続けて、次の手順11. 以降にしたがって2個目のTE013共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理を行い、
        銅箔張り誘電体基板の表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】を自動計算します。

      18. お手持ちの治具(フィクスチャ)[誘電体円柱共振器用の治具]に、2個目のTE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の上下を2枚の銅箔張り誘電体基板で挟んで装荷します。
        * 定められた組み付け・装荷組み立て手順にしたがって、試料および銅箔張り誘電体基板を治具に確実にセットして下さい。
      19. TE013共振モード測定用円柱の装荷外観写真 1

      20. 次に、2個目のTE013共振モード測定用円柱サンプルを装荷した共振器を計測器[ネットワークアナライザ]のテストポート1, 2 に接続し、
        続けて当TE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の、S21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる共振波形を画面上に表示します。
        * 冒頭で先述の通り、誘電体円柱共振器法による測定においては狭い周波数範囲にTE(電界)モードおよびTM(磁界)モードが隣接し密集するため、
          ご契約時にお渡しした誘電体円柱共振器モードチャートを照合して、いずれが正しいTE013測定モードかを注意深く目視して判別することをお勧め致します。
          尚、TE013測定モードの周辺にはTE011測定モードの周辺以上に狭い周波数範囲に他の共振モードが隣接し密集するため、
          測定モードの判別ミスにより正しい測定結果の出力に失敗するリスクが高いのが実状となっており、判別を行う際しては特に細心の注意を必要とします。


        銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 1
      21. 次に、誘電体円柱共振器モードチャートもしくは当TE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]に関する過去に測定された共振周波数のデータを注意深く参照して、
        画面上に表示されたS21 透過(伝送)特性の広帯域にわたる複数共振ピークの中から正しいTE013モードの共振ピークがどれかを、表示されている中心周波数をベースに判別します。
        続けて、計測器[ネットワークアナライザ]を操作して正しく判別したTE013共振ピークにマーカの中心をセットし、周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めます。

        銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21広帯域共振波形 2

        周波数スパンおよび挿入損失【IL】を狭めることによって、以下のように、当円柱サンプルの狭帯域におけるTE013モード共振波形を画面上に拡大表示します。

      22. 銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 1

        共振モード毎に狭帯域における波形を画面上に拡大表示する作業は、高精度測定の成否を左右する非常に重要な作業です。
           上記に示されておりますように、共振波形を広帯域で表示させた場合には Ql(負荷Q)値=257.61 であるのに対して、狭帯域で拡大表示後には Ql(負荷Q)値=5526.0 へと大きく増大しています。
           このことは高精度なQ値を得るには、共振波形を狭帯域で拡大表示することが絶対条件であることを示唆しています。
           Q値の変化により誘電正接【tanδ, Df 】の値は変化し異なってくるため、もし仮に過去の測定において誤って共振波形を狭帯域で拡大表示せずに解析計算を行っていた場合、
           過去に収集し蓄積した全ての誘電正接【tanδ, Df 】のデータ精度の信憑性は著しく疑われるため、再計測とクラウド解析計算による全面的な精度見直しが重要な検討課題となってまいります。》

      23. 1個目のTE011共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理 手順8. において先述しました通り、
        SUM-ROD© 厳密解析計算ソフトの入出力操作用GUIの構造は、上部ブロックと下部ブロックで機能的に分かれている構造となっております。
        GUIの上部ブロックにおいて、測定環境に関するデータ【気温、湿度】および国際標準規格の厳密解析計算処理の引数となる基本パラメータ【当TE013共振モード測定用円柱サンプルの寸法値】を入力・設定し、
        GUIの下部ブロックにおいて、当円柱サンプルの狭帯域の波形データを手入力し誘電特性の厳密解析計算処理の結果を出力する構造となっております。

         
        まず始めに、以下の手順にしたがって、起動している解析計算処理の入出力操作用のMode2 [TE013モード] タブGUIに測定環境に関するデータおよび基本パラメータを入力・設定して保存します。 
        * 連続する各セルへ入力する際は、"マウスクリック → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返すのではなく "tabキー → 次セルへ移動 → 入力" を繰り返して作業する方が、すばやく楽に連続入力できます。
        1. まず始めに、【現在の気温[Temp.(℃)]、現在の湿度[Moisture(%)]】を、有効数字3桁以内の半角数字で入力します。
        2. 続けて【当TE013共振モード測定用円柱サンプルの名前[Material Name]】を、半角英数字で入力します。
        3. 次に、前の手順2.にしたがって測定した当TE013共振モード測定用円柱サンプルの寸法【直径[Diameter(mm)]、測定誤差範囲[delta D (mm)]、長さ[Length(mm)]、測定誤差範囲[delta L (mm)]】を、
          有効数字5桁以内の半角数字で入力します。
        4. 最後に、UPDATE ボタンをクリックし、正しく入力した基本パラメータの設定を保存しておきます。
          * これにより以降の繰り返し解析(再)計算処理において入出力操作用GUIを起動する度に、保存した正確な基本パラメータは自動的に呼び出されて表示されます。

        5. SUM-RODの基本パラメータ入力 5

      24. 続けて先の手順13.にしたがって計測器[ネットワークアナライザ]画面上に拡大表示している当円柱サンプルの狭帯域におけるTE013モード共振波形の、
        挿入損失【IL】/中心周波数【GHz】/3㏈帯域幅の高い周波数【GHz】/3㏈帯域幅の低い周波数【GHz】を目視で読み取ります。

      25. 銅箔張り誘電体基板の比導電率解析計算に使用する、TE013共振モード測定用円柱試料S21狭帯域共振波形 2

      26. さらに続けて、先の手順15. にしたがって目視で読み取った当円柱サンプルのTE013モードの波形データを、以下の手順にしたがって入出力操作用のMode2 [TE013モード] タブGUIの下部ブロックに入力します。
        続けて比誘電率【εr3】の厳密解析計算処理を実行し、出力された高精度データを保存します。
        1. DATA IN ボタンをクリックし、目視で読み取った波形データを手入力するための "Data Input" ポップアップウインドウを起動します。

        2. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 4

        3. "Data Input" ポップアップウインドウ内のテキストボックスに、
          読み取った波形データの【挿入損失 [I.L. (dB)]】を、全5桁の半角数字(−記号抜き)で入力します。
          続けて【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を、
          有効数字6桁の半角数字で入力します。
          全て入力し終えましたら、最後にOKボタンをクリックします。

        4. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 5

        5. 解析計算処理が完了し、Measured Result 欄の中段に、
          当TE013共振モード測定用円柱サンプル[この場合、セラミックス]の比誘電率【εr3】の厳密解析値の結果が表示されます。
          また、それぞれ複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。

        6. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 6

        7. * 以降の出力された高精度データを保存する手順は、前の導体板の比導電率の解析計算手順-16-iv.以降と同じです。導体板の比導電率の解析計算手順-16-iv.以降 を参考に作業を行います。

        以上で、2共振器法による、2個目のTE013共振モード測定用円柱試料の誘電特性のクラウド解析計算処理は完了です。
        最後に、[Results] タブをクリックし、当銅箔張り誘電体基板の表面抵抗【Rs (Ω)】および表面比導電率【σrf (%)】の自動計算結果を確認します。

      27. [Results] タブをクリックすると、自動計算結果の出力GUIに移動します。最後に、出力された高精度データをレポート形式で保存します。
        1. Measured Result 欄に、
          当2個の円柱サンプルの誘電正接の平均値【tanδ, Df 】、
          当2枚の銅箔張り誘電体基板の20℃における純銅に対する表面比導電率の平均値【Sigma(%)@20℃】および 表面抵抗の平均値【RS(Ω)】の厳密解析値の結果が表示されます。
          また、複数回の測定・解析計算結果の間でのばらつき誤差が表示されます。
          結果の確認を終えましたら、続けてREPORT ボタンをクリックします。

        2. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 7

        3. 保存ファイル名を入力し、続けて保存ボタンをクリックします。

        4. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 8

        5. 仮想デスクトップPCのデスクトップ上の "解析計算データ・レポート保存フォルダ" 内に、レポートのファイルが保存されます。
          保存ファイル名をダブルクリックして開き、全てのデータがレポート形式で確実に保存されているかどうかご確認下さい。

        6. SUM-RODのクラウド銅箔張り誘電体基板比導電率計算処理 9

        以上で、2共振器法による、銅箔張り誘電体基板の導電性のクラウド解析計算処理は完了です。
        * したがって、当銅箔張り誘電体基板の導電性の国際標準データは、表面比導電率【Sigma(%)@20℃】=95.436 表面抵抗【RS(Ω)】=0.01894 となります。
          尚、銅箔張り誘電体基板の表面比導電率が95.436% とは、「95%±3%(大気中での酸化による劣化の影響が少ないレベル) 許容範囲内のプリント基板」
          であることを意味しております。

         
        必要に応じてお手元に準備されている他の銅箔張り誘電体基板もしくは導体板のTE011およびTE013共振ピークを判別し、5.以降の手順を繰り返してクラウド解析計算処理を実行します。
        そして、当解析計算クラウドサービスをさらに上位レベルの2共振器法による誘電特性解析支援ツールとして最大限に有効利用してゆくために、
        保存した国際標準規格の高精度データと過去の測定において収集・蓄積したデータとの比較と見直しチェック (C) → 現状のプリント基板導電性測定システムにおける問題箇所の明確化と課題検討 (A)
        → 解決プランの明確化および立案 (P) → 解決プランの実施 (D) による、クラウド解析計算処理サイクルを回してゆきます。

  7. 測定モード判別ミスや標準規格外設計の円柱試料[サンプル]を使用した場合に出力される「解析計算処理エラー判定」の見方 / 解析計算結果データの検証方法に関するお問い合わせ
    1. 測定モード判別ミスの例
      1. 以下のように、測定している銅箔張り誘電体基板表面を目視して光沢品質が良く想定比導電率値が90%以上であるにも関わらず、予想外に低く悪い表面比導電率【σrf (%)】値が出力される場合は、
        SUM-ROD© のIEC国際標準規格の厳密解析計算アルゴリズムが
        入力された波形データ【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を評価して、
        「誤って、TE011共振モード測定用円柱サンプルの規格標準測定モード(TE011モード)ではない隣接密集する別の共振モードを測定している」と判定したことを示唆しております。
      2. 解析計算処理エラー判定の結果 3

      3. 同様に、測定している銅箔張り誘電体基板表面を目視して光沢品質が良く想定比導電率値が90%以上であるにも関わらず、予想外に低く悪い表面比導電率【σrf (%)】値が出力される場合は、
        SUM-ROD© のIEC国際標準規格の厳密解析計算アルゴリズムが
        入力された波形データ【中心周波数 [Center Freq. (GHz)]、3㏈帯域幅の高い周波数 [3dB Freq. High (GHz)]、3㏈帯域幅の低い周波数 [3dB Freq. Low (GHz)]】を評価して、
        「誤って、TE013共振モード測定用円柱サンプルの規格標準測定モード(TE013モード)ではない隣接密集する別の共振モードを測定している」と判定したことを示唆しております。
      4. 解析計算処理エラー判定の結果 4

    2. 標準規格外設計の円柱試料[サンプル]を使用した場合の例
      1. 以下のように、測定している銅箔張り誘電体基板表面を目視して光沢品質が良く想定比導電率値が90%以上であるにも関わらず、かけ離れて低く悪い表面比導電率【σrf (%)】値が出力される場合は、
        SUM-ROD© のIEC国際標準規格の厳密解析計算アルゴリズムが
        入力された当TE011共振モード測定用円柱サンプル寸法【直径 D (mm) 、長さ L (mm)】の基本パラメータを評価して、
        「ご使用のTE011共振モード測定用円柱サンプルは、標準規格外の寸法設計に基づいて製造されたものである」と判定したことを示唆しております。
      2. 解析計算処理エラー判定の結果 1

      3. 同様に、銅箔張り誘電体基板の通常の比導電率値100%以下をはるかに超える異常に高すぎる表面比導電率【σrf (%)】値が出力される場合は、
        SUM-ROD© のIEC国際標準規格の厳密解析計算アルゴリズムが
        入力された当TE013共振モード測定用円柱サンプル寸法【直径 D (mm) 、長さ L (mm)】の基本パラメータを評価して、
        「ご使用のTE013共振モード測定用円柱サンプルは、標準規格外の寸法設計に基づいて製造されたものである」と判定したことを示唆しております。
      4. 解析計算処理エラー判定の結果 2

    IEC国際標準規格の高精度測定法におきましては、
    ご使用中の計測器の正確さと共振器の信頼性の検証 → 測定に用いる円柱試料[サンプル]の規格標準測定モードの波形ピークの正確な判別 → 円柱試料の誘電特性データの抜本的な精度見直しチェック
    → 銅箔張り誘電体基板もしくは導体板の表面導電性データの抜本的な精度見直しチェック の一連の作業について、
    国際的に取り決められた基準である誘電体円柱共振器モードチャートに基づいて可視的に判断し正確で信頼性の高い判定が行える点が、最大のキーポイントとなります。
    「解析計算処理エラー判定」が出力される場合、当社技術サポート窓口までお問い合わせ下さい。

    解析計算結果データの正確さについて比較見直しチェックする方法が不明な場合は、当社技術サポート窓口までお問い合わせ下さい。
     銅箔張り誘電体基板サンプルと比較見直しチェック用の当基板サンプルの表面比導電率標準測定データを、リーズナブルな価格にてご提供致します。